以下列举的是电路板上常见的电子元件符号: 1,B:电池(battery)。 2,C:电容器(capacitor)。 3,D或CR:二极管(diode)。 3,F:保险丝(fuse)。 4,IC:集成电路(integrated circuit)。 5,L:...
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半导体中ni为多少 |
GaAs的ni是多少
∪0∪ GaAsSi无掺杂N>5×1017<5×105VGFVBDia2″×0.35mmDia3″x0.35mmDia100×0.65mm取向(100)0°±0.5°,<111>(100)2°±0.5°偏向<111>A(100)15° ±0.5°offtGaAs4是Ga8As角在1/4的体对角线上,6As面中心=4As原子每单位细胞摩尔碳,质量12,并且碳12的原子量为12。 如何求质量密度?1. 首先找到立方厘米
GaAsni=1.8*10∧6㎝-3Geni=2.4*10∧13㎝-3本征载流子浓度ni与温度T和带隙Egis的关系(与杂质无关)ni=(NcNv)^(1/2)exp[-Eg/(2kT)]室温下,Si'sni=1
GaAsni=1.8*106cm-3Geni=2.4*1013cm-3因此,锗的本征载流子浓度最大,硅次之,砷化镓最小。 但对于这些半导体材料,随着温度范围内温度的变化,nic的值很容易变为ni=4.821015mdnmdpm023/4T3/2exp-Eg2kT本征载流子浓度ni和禁带宽度EgT=300KGe:Eg=0.67eV,ni=2.4×1013cm-3Si:Eg=1.12eV,ni=1.5×1010cm-3GaAs:Eg=1.43eV,ni= 1.1×107cm-3测量值()n
12Kni本征半导体的电导率无法控制。当温度足够高,本征激励占主导地位时,器件无法工作。Si约为520k,锗为370k,GaAs720有意掺杂的半导体是材料的主体。3.4杂质半导体的载体,为您提供参考答案理论:Ni-0.246VCo:0.277V实际情况应该低于.仅供参考
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标签: ni的配位数
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